电气长度<1.3mm，射频性能极佳 | QFN，QFP，SO多种封装 |
>0.35mm 引脚间距 | 开尔文测试设计 |
出色的接触电阻和电流承受能力 | 三温测试能力(-55℃-150℃) |
高频性能优越
适用于QFN，QFP，SO封装类型
适用于手测，机测，老化等多种测试方式
自清洁设计，使用寿命长
电气长度<1.3mm，射频性能极佳 | QFN，QFP，SO多种封装 |
>0.35mm 引脚间距 | 开尔文测试设计 |
出色的接触电阻和电流承受能力 | 三温测试能力(-55℃-150℃) |
引脚类封装：QFP， SO，其他0.4mm及以上引脚间距
无引脚封装.：QFN，其他0.4mm及以上引脚间距
Socket材料：Vespel SP-1，Plavis-N，MDS-100
弹簧材料：铍铜及其他
产品引脚间距：0.4mm
探针弹力：25g-50g
测试行程：0.25mm-0.35mm
接触电阻：50mΩ
电流承载能力： 2A持续电流
频宽：>16.5GHZ@-1dB
电感：0.36nH
温度范围：-55℃-150℃
探针使用寿命：500K-1KK
测试插座使用寿命：>3KK
清洁频率：100K-300K